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Lifetime estimation of IGBT module using square-wave loss discretization and power cycling test

NUCLEAR ELECTRONICS AND INSTRUMENTATION | 更新时间：2022-11-22

- Lifetime estimation of IGBT module using square-wave loss discretization and power cycling test 封面论文增强出版
- Lifetime estimation of IGBT module using square-wave loss discretization and power cycling test
- 核技术（英文版） 2022年 33卷第10期 (2022)
- 作者机构：
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  National Key Research and Development Program of China(2019YFA0405402)
- DOI：10.1007/s41365-022-01118-7 中图分类号：
- 纸质出版日期：2022-10，
  
  网络出版日期：2022-10-15，
  
  收稿日期：2022-03-25，
  
  修回日期：2022-07-24，
  
  录用日期：2022-08-21
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引用本文
Lifetime estimation of IGBT module using square-wave loss discretization and power cycling test[J]. 核技术（英文版）, 2022, 33(10):133

Jie Wang, Da-Qing Gao, Wan-Zeng Shen, et al. Lifetime estimation of IGBT module using square-wave loss discretization and power cycling test[J]. Nuclear Science and Techniques, 2022, 33(10):133
Lifetime estimation of IGBT module using square-wave loss discretization and power cycling test[J]. 核技术（英文版）, 2022, 33(10):133 DOI： 10.1007/s41365-022-01118-7.

Jie Wang, Da-Qing Gao, Wan-Zeng Shen, et al. Lifetime estimation of IGBT module using square-wave loss discretization and power cycling test[J]. Nuclear Science and Techniques, 2022, 33(10):133 DOI： 10.1007/s41365-022-01118-7.

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