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Subnanosecond current mode detectors for prompt physical process diagnosis

更新时间：2021-02-05

- Subnanosecond current mode detectors for prompt physical process diagnosis 封面论文增强出版
- Subnanosecond current mode detectors for prompt physical process diagnosis
- 核技术（英文版） 1999年 10卷第3期 (1999)
- 作者机构：
  
  Institute of Nuclear Physics and Chemistry, CAEP,Mianyang,621900
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  National High-Tech ICF Committee of China()
- DOI：中图分类号：
- 纸质出版日期：1999-08-01，
  
  网络出版日期：，
  
  收稿日期：1999-05-02，
  
  修回日期：，
  
  录用日期：
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引用本文
Shu-Huai WEN, Jian-Lun YANG, Hong-Qiong YANG, 等. Subnanosecond current mode detectors for prompt physical process diagnosis[J]. 核技术（英文版）, 1999, 10(3):129-133.

Shu-Huai WEN, Jian-Lun YANG, Hong-Qiong YANG, et al. Subnanosecond current mode detectors for prompt physical process diagnosis[J]. Nuclear Science and Techniques, 1999, 10(3):129-133.
Shu-Huai WEN, Jian-Lun YANG, Hong-Qiong YANG, 等. Subnanosecond current mode detectors for prompt physical process diagnosis[J]. 核技术（英文版）, 1999, 10(3):129-133. DOI：

Shu-Huai WEN, Jian-Lun YANG, Hong-Qiong YANG, et al. Subnanosecond current mode detectors for prompt physical process diagnosis[J]. Nuclear Science and Techniques, 1999, 10(3):129-133. DOI：

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