您当前的位置：

首页 >

文章列表页 >

Experimental study on heavy ion single event effects in flash-based FPGAs

NUCLEAR ELECTRONICS AND INSTRUMENTATION | 更新时间：2021-02-23

- Experimental study on heavy ion single event effects in flash-based FPGAs 封面论文增强出版
- Experimental study on heavy ion single event effects in flash-based FPGAs
- 核技术（英文版） 2016年 27卷第1期 (2016)
- 作者机构：
  
  Institute of Modern Physics, Chinese Academy of Sciences,Lanzhou,China,730000;University of Chinese Academy of Sciences,Beijing,China,100049
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  National Natural Science Foundation of China
- DOI：10.1007/s41365-016-0015-8 中图分类号：
- 纸质出版日期：2016-02-20，
  
  网络出版日期：2016-02-27，
  
  收稿日期：2015-02-08，
  
  修回日期：2015-08-19，
  
  录用日期：2015-09-09
扫描看全文
引用本文
杨振雷, 王晓辉, 苏弘, 等. Experimental study on heavy ion single event effects in flash-based FPGAs[J]. 核技术（英文版）, 2016, 27(1):7

Zhen-Lei YANG, Xiao-Hui WANG, Hong SU, et al. Experimental study on heavy ion single event effects in flash-based FPGAs[J]. Nuclear Science and Techniques, 2016, 27(1):7
杨振雷, 王晓辉, 苏弘, 等. Experimental study on heavy ion single event effects in flash-based FPGAs[J]. 核技术（英文版）, 2016, 27(1):7 DOI： 10.1007/s41365-016-0015-8.

Zhen-Lei YANG, Xiao-Hui WANG, Hong SU, et al. Experimental study on heavy ion single event effects in flash-based FPGAs[J]. Nuclear Science and Techniques, 2016, 27(1):7 DOI： 10.1007/s41365-016-0015-8.

浏览量

下载量

CSCD

文章被引用时，请邮件提醒。

提交

工具集

关联资源

A flexible and robust soft-error testing system for microelectronic devices and integrated circuits

Experimental study on heavy ion single event effects in flash-based FPGAs 封面论文 增强出版

Experimental study on heavy ion single event effects in flash-based FPGAs 封面论文增强出版