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Influence of scanning force microscope loading force on measurement of ion-track diameter

更新时间：2021-02-05

- Influence of scanning force microscope loading force on measurement of ion-track diameter 封面论文增强出版
- Influence of scanning force microscope loading force on measurement of ion-track diameter
- 核技术（英文版） 1997年 8卷第3期 (1997)
- 作者机构：
  
  Institute of Heavy Ion Physics, Peking University,Beijing,100871;Planckstr. 1,Darmstadt,Germany,D-64291
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  GSI, Germany()
- DOI：中图分类号：
- 纸质出版日期：1997-08-01，
  
  网络出版日期：，
  
  收稿日期：1997-03-20，
  
  修回日期：，
  
  录用日期：
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引用本文
Yu-Gang Wang, Wei-Jiang Zhao, J Ackermann, 等. Influence of scanning force microscope loading force on measurement of ion-track diameter[J]. 核技术（英文版）, 1997, 8(3):160-162.

Yu-Gang Wang, Wei-Jiang Zhao, J Ackermann, et al. Influence of scanning force microscope loading force on measurement of ion-track diameter[J]. Nuclear Science and Techniques, 1997, 8(3):160-162.
Yu-Gang Wang, Wei-Jiang Zhao, J Ackermann, 等. Influence of scanning force microscope loading force on measurement of ion-track diameter[J]. 核技术（英文版）, 1997, 8(3):160-162. DOI：

Yu-Gang Wang, Wei-Jiang Zhao, J Ackermann, et al. Influence of scanning force microscope loading force on measurement of ion-track diameter[J]. Nuclear Science and Techniques, 1997, 8(3):160-162. DOI：

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